更新時間:2024-11-08
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D該系列儀器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的JJG547-88檢定規(guī)程的要求,整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵,可直接打印檢測結(jié)果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D
該系列儀器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的JJG547-88檢定規(guī)程的要求,整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵,可直接打印檢測結(jié)果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數(shù),并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數(shù)目及其變化情況,對于研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。該系列儀器性能設計良好、質(zhì)量穩(wěn)定可靠
型號:CLJ-D
該系列產(chǎn)品已被廣泛應用于潔凈室檢測;過濾器現(xiàn)場檢測、撿漏;可監(jiān)測凈工作臺、生物安全柜,HVAC系統(tǒng),計算機室、飲料包裝環(huán)境,醫(yī)療器械生產(chǎn)環(huán)境,醫(yī)院潔凈手術室,汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產(chǎn)和科研部門,是制藥企業(yè)及其監(jiān)督管理部門貫徹GMP規(guī)范及電子生產(chǎn)企業(yè)的儀器。 半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D
主要技術參數(shù)及性能:
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級~100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0(μm)六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉(zhuǎn)換成1m3所含顆粒數(shù)。
7.采樣周期: 1~10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準:可追溯美國國家標準技術協(xié)會(NIST)
10.工作環(huán)境: 溫度:10~35℃ 相對溫度: 20~75%RH
11.大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度:(選購)
(1) 溫度:0~50℃±1℃
(2) 濕度:0~100%RH±5%
13.采樣點數(shù) 2~7點設定
14.每點采樣次數(shù) 2~9次設定
15.UCL報表:符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間:8 小時
17.電源: AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測,依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內(nèi)置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架
產(chǎn)品名稱:擺式集料摩擦儀 集料摩擦儀 摩擦系數(shù)儀 產(chǎn)品型號:B0190 |
擺式集料摩擦儀 集料摩擦儀 摩擦系數(shù)儀 型號:B0190
測定用加速磨光機所得到集料磨光后石料的磨光值,用以評定集料的摩擦特性。適合于現(xiàn)場和試驗室使用
測定用加速磨光機所得到集料磨光后石料的磨光值,用以評定集料的摩擦特性。適合于現(xiàn)場和試驗室使用。
主要特點:
- 新型低摩擦擺臂釋放機構,令試驗更加準確
- 其輕盈的指示器,可以得到高精度結(jié)果
- 滑塊提升系統(tǒng)與擺臂腳一體
- 化構造,保證可靠的調(diào)整操作
- 牢固結(jié)實的雙柱式結(jié)構
- 方便和可靠的高度調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 一體式附加刻度盤,可測試PSV試樣
- 提供全套標定證書
- 符合EN 1097-8的Controls 標定證書。
技術規(guī)格:
6個小橡膠片
溫度計測量范圍:-10~+110°
洗滌瓶容量:1升
尺寸:790×760×320mm
重量:34kg